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當前位置:首頁產品中心半導體光學檢測系列SiC晶圓少子壽命質量成像監測系統
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半導體光學檢測系列
18698665927
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提升碳化硅成像檢測系統精度的關鍵技術分析
碳化硅成像檢測的應用領域
閃光光解系統的原理和組成部分
創銳光譜堅持自主創新、技術獨立 推進高端科研儀器國產化替代和前沿引領
電激發納秒瞬態吸收光譜系統的儀器作用
瞬態熒光光譜系統的工作原理
碳化硅成像檢測,SiC晶圓質量成像檢測系統:晶圓襯底質量(載流子壽命)高速成像,快速篩查外延片晶格質量。
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